二手 ANDA TESA-uHITE PIM 100 #9222760 待售

ANDA TESA-uHITE PIM 100
ID: 9222760
Wafer thickness measuring system.
ANDA TESA-uHITE PIM 100是一种通用的掩模和晶圆检测设备,非常适合在各种应用中使用。该系统利用最先进的集成成像技术,快速准确地检测和测量晶圆、掩模和显示器表面的缺陷。也可用于检查一系列材料,如半导体、薄膜晶体管、LED和其他组件。TESA-uHITE PIM 100的核心部件是其成像技术。这项技术以CCD(电荷耦合器件)和消色差透镜光学器件为基础,能够同时发射日光和红外线。这样可以对各种材料进行高精度的表面检查。此外,该装置能够检查200毫米至820毫米大小不同的晶片。ANDA TESA-uHITE PIM 100除了具有成像能力外,还包括多项高级软件功能,包括动态图像识别、3D图像分析、多图像比较等。这些功能使机器能够在比传统视觉工具更深的层次上识别缺陷,从而帮助减少返工和材料损失。此外,资产的内置跟踪和记录功能使检查结果得以存储和分析,以便将来进行评估。TESA-uHITE PIM 100在控制环境方面也提供了一系列的多功能性。它能够从手动操作和PC操作接收微小和详细的控制命令。此外,它还配备了一套全面的安全功能,包括电阻式触摸保护和开/关开关,确保在使用该型号时免受电击或火灾。为进一步提高设备性能,ANDA TESA-uHITE PIM 100还设有内置网络端口,允许用户与外部系统进行通信。这在大型设置中使用时特别有用,允许用户远程访问系统以进行集中控制。总体而言,TESA-uHITE PIM 100是一个极其可靠和强大的单位,用于晶圆、掩模和显示器的表面检查。其先进的成像技术允许更快、更准确的缺陷检测,以减少材料损失和返工,而其通用的控制环境使其适合各种应用。此外,它的内置安全功能确保了机器使用时的安全环境。
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