二手 ASM IBE 139 #293637813 待售

ASM IBE 139是一种功能齐全的掩模和晶片检测设备,可提供半导体晶片和掩模的精确、超清晰的图像分析。它旨在在生产过程中准确检测单个晶体管和组件的位置，并定位潜在的缺陷。该系统提供了在潜在问题成为主要生产障碍之前快速发现这些问题的有效工具。ASM IBE139具有强大的光学显微镜设备,配有强大的数字成像处理器,可促进晶圆和掩模的精确、高放大成像。显微镜安装在一个电动XYZ级上，设计用于从小至几微米的截面采集图像样本。此外，这种显微镜利用高灵敏度、高动态范围CCD相机来捕捉半导体晶片外层以及表面以下层的图像。为进一步方便准确识别和分析缺陷，IBE 139配备了强大的图像处理引擎，利用先进算法准确识别和放大缺陷。这些算法使机器能够快速地将图像样本与清洁晶圆图像数据库进行比较，有效地检测任何变化或不规则性。该工具还能够对不同级别的图像之间的差异进行详细的矢量分析,从而能够识别和隔离最小的缺陷。除了强大的成像处理器外,IBE139还具有直观的用户界面,允许用户快速轻松地控制和监控资产。该模型具有集成的数据管理器,可实现缺陷本地化、注释和自动测试模式识别等功能。这使用户能够快速隔离晶片或掩模中需要进行进一步测试和分析的部分。该设备还具有实时警报功能,使其能够快速通知用户检测到的生产问题。ASM IBE 139还提供了更高的性能、可靠性和运行效率。该系统采用专有硬件平台,旨在确保可靠的操作和长期耐用性。此外，该单元可以很容易地与各种软件工具结合起来，以促进晶圆和掩模检查的自动化，包括使用自动宏运算。因此，ASM IBE139是要求精确可靠检测结果的高效掩模和晶片制造商的理想选择。