二手 ASM IBE 139 #293637822 待售

ASM IBE 139是一种用于检测半导体晶片上的缺陷和粒子的掩模和晶片检测设备。它是由领先的半导体测试和检验系统供应商Automated Semiconductor Makers（ASM）开发的。该系统基于光学显微镜成像光束（OMiB）技术，将高分辨率成像与自动去除颗粒相结合。它有一个集成的工具箱,包含50多种自动化工具,使制造商和设计人员能够快速准确地分析设备缺陷。该单元使用三个主要组件。第一个组成部分是显微镜，这是一种光学机器，产生晶圆的特写记录。它可以以各种放大和分辨率操作，提供晶圆微观结构的详细视图。它还包括用于自动图像分析、检测缺陷和粒子以及生成报告的高级图像处理软件。第二个部件是ultasonic清洗。用于利用超声波去除晶圆中的颗粒。波由波导产生，然后定向到晶圆上的特定位置。波导清洁晶圆表面，还能检测到颗粒或裂纹，可用于质量控制。第三个组件是红外滤波器。它用于通过去除光谱中的紫外线和可见光来去除晶圆中的粒子。它检查一个带有红外辐射的晶片，使其能够产生粒子和缺陷的增强图像。通过使用这些组件，ASM IBE139工具可用于检测半导体晶片上的颗粒、缺陷和污染。它还可以检测晶片地形的变异性、滤波器规格的偏差以及监测晶片表面质量。该资产可用于最大限度地提高产量、降低成本和提高所生产设备的质量。