二手 ASM ISIBE 139H #9396132 待售

ASM ISIBE 139H是一种用于半导体制造过程中的高性能掩模和晶圆检测设备。它配备了大量先进的成像和检查功能,可以检测到11微米以下的缺陷,非常适合检查复杂晶片上的微小特征,如掩模模式和MEMS结构。ISIBE 139H具有较高的运行速度，使其能够处理高吞吐量的晶片。该系统利用先进的激光成像和检查技术，提供极为精确的设备图像。其高效的图像处理算法确保只捕获和分析最重要的特征。它还配备了一个先进的缺陷检测方桉，用于检测未对准、缺失和变薄的模式。该单元即使是最难检测的缺陷，也能检测到，使其适合于原子力显微镜（AFM）和电子束光刻（EBL）等应用。ASM ISIBE 139H还具有高精度聚焦控制机,有助于提供高分辨率图像。该工具的10 μ m分辨率成像比其他系统产生更大的检查区域,从而可以在更短的时间内检测到更多的缺陷。资产还配备了自动缺陷分析和分类功能，使其比其他需要人工干预以识别缺陷的检查系统更具优势。ISIBE 139H具有直观的用户界面,易于操作和最小的培训。其先进的校准模型使晶片和掩模图样的定位更加容易、准确和一致。该设备还具有自动对焦功能,使用户能够快速准确地调整光学对焦以获得更好的结果。ASM ISIBE 139H广泛应用于半导体行业，提供可靠的缺陷检测和缺陷识别能力。高性能、精确度和直观的用户界面使其成为掩模和晶圆检测的理想选择。其先进的成像、缺陷检测和校准功能确保了准确可靠的结果,使其成为任何半导体制造过程中必不可少的工具。