二手 ASM TIB 139 #293656557 待售
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ASM TIB 139是针对掩模和晶圆缺陷的先进无损检测设备。它是用于质量控制、工艺优化和制造产量改进的理想的高性能自动化解决方桉。该系统能够分析各种缺陷，如化妆品缺陷、擦伤、扭曲、污染、厚度变化、颗粒和其他不符合要求的特征。该单元的主要部件包括半导体检测平台、晶圆卡盘和调节模块、视觉机、对准单元和控制器。该平台包含可调级和晶圆传输工具，采用刚性材料和减震器构造，以确保晶圆的精确放置和支撑。晶片卡盘和调整模块用于微调晶片的定位以进行优化检查，而视觉资产则用于捕获缺陷并对其进行精确分析。对准单元可帮助摄像机获取精确的图像,从而获得最高分辨率的图像。最后，控制单元确保了模型参数的可靠监控和调整，以优化设备性能。该系统提供高精度、高速和非侵入性成像，使其能够以高达0.2微米的精度每小时检查多达300个晶圆。成像单元让技术人员分析缺陷图像，快速、精确地进行适当调整。机器还使用了技术层技术来区分材料，允许用户在个别设备之外分析晶片层。该工具还设计有一个安全和灵活的图形用户界面。此界面允许用户自定义资产设置,并根据所需的要求校准模型。这样可以确保每个设备都是专门为手头的任务量身定制的。总体而言,TIB 139掩模晶片检测系统是一种易于配置且可靠的检测解决方桉。它是半导体生产的理想选择，让用户达到高精度和可靠的检测结果。该装置以先进、高度可靠的缺陷检测机而赢得声誉，并在许多大型工业生产场所成功实施。
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