二手 ASM TIB 139 #9299366 待售

ASM TIB 139是专门为晶圆切块工艺设计的掩模和晶圆检测设备。它是Advanced Semiconductor Manufacturing （ASM）系列产品的一部分。TIB 139使用先进的光束图样技术检查晶圆表面，以检测潜在的微缺陷。该系统包括一个专门设计的大型光学台、一个图像处理单元和一个高分辨率相机。此外，它还支持一系列高级光学和软件，便于对晶圆表面进行不同放大倍率的全场检查。大的光学表使它能够检查晶片表面最多10微米的区域，其高达50 nm的显着更高的分辨率甚至可以检测到表面最微小的缺陷。包含在单元中的相机的CCD分辨率为2048 × 1536,动态范围2560X2048。它还包含一系列滤镜,这些滤镜对于提高图像质量和实现更好的分析至关重要。为了适应不同的晶圆尺寸，ASM TIB 139还附带了可互换的装载盘。机器中包含的软件支持高级图像分析和精确测量和计算。它可以通过分析不同角度的图像和显示缺陷的纠正操作指令来检测异常和不规则性。这保证了晶片符合期望的标准。TIB 139工具也高度可靠，可用于大批量生产环境。它允许生产优质晶片，有助于减少因表面检查缺陷而造成的浪费。高性能、可靠和用户友好的特性使其成为晶圆切丁工艺的理想选择。