二手 ASM TIB 139 #9299470 待售

ASM TIB 139是一种自动化的掩模和晶片检查设备，设计用于快速识别和检测掩模和晶片表面的缺陷。该系统执行各种检查，包括视觉、自动光学和/或电子束。TIB 139是一个全封闭式单元，旨在提供高吞吐量和自动化缺陷检测能力，具有最大精度和精度水平。机器带有两种截然不同的检查模式，可用于检查形状、几何形状和角度不同的掩模和晶片。第一种模式使用自动光学检查进行检查，使用高分辨率相机技术检测掩模和晶圆表面的总缺陷。该工具采用先进的软件算法进行编程，从而能够进行更精确和准确的缺陷检测。它还配备了定义明确的光源，以确保准确的结果。第二种模式是电子束检查，使用电子显微镜精确检查晶圆或掩模基板的表面。此模式提供了极其详细的图像,使用户可以通过自动光学检查检测到可能看不见的非常小的缺陷。ASM TIB 139资产是一种易于使用、极其精确和精确的工具,旨在满足任何大容量半导体制造商的需求。它提供了广泛的检查功能,同时提供了最高水平的准确性和可靠性。无论是用于检查口罩还是晶片，模型都提供了无与伦比的准确性、精确度和易用性。