二手 ASML / HMI eP3 #293637176 待售

ASML / HMI eP3
製造商
ASML / HMI
模型
eP3
ID: 293637176
晶圆大小: 12"
优质的: 2013
Wafer inspection system, 12" Chamber (2) Loadports 2013 vintage.
ASML/HMI eP3是一种用于检测硅晶片和印刷电路板上存在缺陷的下一代掩模和晶片检测设备。这种精密先进的设备使用光学成像,并通过光束通过晶圆或电路板识别微观和机械缺陷。缺陷可以在造成过程或产生损失之前识别出来。HMI eP3采用高分辨率光学成像装置和紫外线激发激光器。自动化的高分辨率数字成像系统提供晶圆和电路板上每个微观特征的视图。在成像过程中使用的紫外线激发激光器产生高精度的紫外线照明。这种照明可以准确检测晶片和电路板上的缺陷和缺陷。ASML eP3还配备了一个特殊的缺陷分类和分析单元,利用先进的算法对硅晶片上的微小缺陷进行识别、分类和分析。这台机器能够快速、可靠和高效地评估和测量某一缺陷的严重程度和后果。此外,该工具还包括自动对焦和自动定点系统,可实现精确精确的快速测量。这些系统允许检查更大、更复杂的晶片和电路板。EP3配备了智能软件资产,能够动态控制光激激光束和自动聚焦模型,以确保在整个检查过程中尽可能高的精度。ASML/HMI eP3允许用户访问每块经过检查的晶圆或电路板上的详细信息。综合数据库存储了300多万个晶圆的信息,确保了检查过程中的高度准确性和可靠性。综上所述,HMI eP3旨在为我们的客户提供可靠且经济高效的解决方桉,以便快速准确地检测和评估硅片和印刷电路板上的缺陷。该设备配备了先进的光学成像系统、缺陷分类和分析单元、自动对焦和点点系统以及综合数据库,使其能够以非凡的精确度处理大量数据。
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