二手 BROWN & SHARPE 4.5.4 SF #9286760 待售

BROWN&SHARPE 4.5.4 SF是一种自动化的掩模和晶片检测设备，设计用于快速准确地检测生产掩模和晶片的缺陷。它使用了几种技术来快速检查IC晶片和掩模的两侧，包括模模对模具、面积矢量映射、双面模版印刷和通孔横截面分析。该系统使单个技术人员能够同时执行多个功能,并且可以轻松适应不同的产品需求。该单元的双面模版打印功能自动检测原始设计图样和堆叠在实际蒙版上的图样之间的差异。然后使用此信息对掩码的物理特性进行验证。机器使用聚氨酯的双面层压与丙烯酸染色一起在口罩支架上形成均匀的口罩。然后可以识别蒙版上存在的任何缺陷。在晶圆检测中，该工具采用了区域矢量映射技术。这项技术允许晶圆两侧的模模数据自动映射。晶圆两侧的划定是基于映射数据，主要用于检测晶圆上的缺陷。资产的穿孔横截面分析功能使用微观图像来搜索晶圆接触手指之间的互连间隙中的缺陷。摄像机用于扫描每个接触手指并测量间隙宽度，以帮助检测微小的缺陷。BROWN&SHARPE 4.5.4 SF模型能够在传统系统的一小部分时间内执行晶圆和掩模检查。它设计用于快速设置和操作,允许单个技术人员同时操作多个功能。此外,设备易于调节,以适应各种工艺要求。这使得它非常适合那些希望在执行掩码和晶片检查时节省时间和提高可靠性的人。