二手 BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9140610 待售

BROWN&SHARPE MicroVal 343 Mask&Wafer Inspection Equipment是用于复杂半导体元件精密检测、验证和分析的综合解决方桉。该检测系统利用先进的光刻技术，以高灵敏度提供精确的微小特征二维和三维图像。MicroVal 343单元能够以高达0.25 um的分辨率检查各种复杂几何形状的掩模和晶片样品。机器的光学成像工具由高分辨率全景CCD相机和精确LED光源组成。这样可以确保所有特征,包括光刻胶图样、特征轮廓和空腔都能以高精度进行测量。资产的软件允许用户捕获可以通过多种方式进行分析的图像。例如,软件可以检测和识别模式,同时还可以准确测量样本上的任何给定特征。此外,诸如边缘检测、OCR和比较功能等软件工具使用户能够比较不同的晶片,以了解其结构和功能的差异。该模型还具有自动对准模式,可确保对所有样品进行准确、稳定的测试,甚至提供调整和旋转样品图像的能力,以便与光学设备进行适当的对焦。此外,BROWN&SHARPE MicroVal 343系统能够检测尺寸高达200 um的特征,并且利用其多光源配置,可以检查反射和传输模式下的特征。总体而言,MicroVal 343 Mask&Wafer Inspection Unit为客户提供了一个精确可靠的工具,用于检查、验证和分析复杂的半导体元件。利用先进的光刻技术，以高灵敏度提供精确的二维和三维微小特征图像，为半导体工业提供了宝贵的服务。