二手 BROWN & SHARPE Xcel 7-10-7 #293806934 待售

BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Equipment是一种先进的检测系统，用于检测半导体晶片和Mask中的缺陷。该单元设计用于同时分析多个晶片和掩模图像，采用模式识别技术检测各种类型的缺陷。该机器旨在帮助降低检查晶片和口罩的成本，消除一些潜在的人为检查错误。该工具使用电荷耦合器件（CCD）相机扫描每个掩码/晶圆多达1,000个场，而软件则协助获取图像和缺陷检测。然后,资产可以将检查结果与经过处理的晶圆或掩模表面的预定期望进行比较。对于每个扫描的晶圆或掩码,模型都以易于解释的格式显示图像。Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Equipment允许最多七种不同的mask/Wafer搜索模式。它能够检测微粒、小特征和其他小至1平方微米的瑕疵，精度为0.00078英寸。它还能够检测每个晶片边缘晶体生长的轻微缺陷。该系统允许用户使用统计过程控制方法和工具分析不匹配数据，使他们能够及时识别和纠正缺陷。它还支持对每个测试的掩码的关键数据进行文本迭加。BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7包括完整的产品和单元支持,以确保尽可能高效的性能。Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Machine是生产线需要高精度和质量控制的重要工具。它能够快速高效地检测小缺陷,有助于降低成本和提高产品产量。它还为制造商提供了其产品将达到最高标准的保证。总体而言，该工具是制造商快速准确地检查半导体晶片和掩模的一种具有时间和成本效益的方法。