二手 BROWN & SHARPE Xcel 765 #154417 待售

BROWN&SHARPE Xcel 765是一种掩模和晶圆检测设备，设计用于自动测试和检查光掩模、半导体晶圆和其他平板显示器。它具有直观的触摸屏用户界面,可快速设置和控制,从而在各种测试设置中具有灵活性。该系统主要用于缺陷分析、3D测量以及微观缺陷和掩模和晶片差异的检查。Xcel 765具有模块化设计，因此用户可以从各种选项中进行选择，根据各自的需求定制设备。选项包括各种相机类型,如CCD、CMOS和NIR,以及一系列照明技术。光学台尺寸也可以相应配置，而电动控制提供了高重复性的平稳运行。BROWN&SHARPE Xcel 765还具有多项专利技术,例如其PPI （Patterned Particle Inspection, Patterned Particle Inspection）技术,能够自动检测光掩模和晶片上的粒子。这台机器可以检测到50纳米以下的微粒，结果快，精度高。另一个特色是AVP（Automatic Vision Patterning），它可以以精确和速度对齐、倾斜和旋转零件。Xcel 765的闭环DEFACT控制允许自动扫描、测试和调整缺陷型掩码。这提供了对微观缺陷的连续分析和报告，最大限度地减少了人工检查的需要。此外,还可以对机器进行自动条形码扫描和3D测量配置,从而提高生产效率和准确性。总体而言，BROWN&SHARPE Xcel 765是一种高效的面罩和晶圆检测工具。凭借其直观的用户界面、各种定制选项以及获得专利的检验技术，它是任何需要快速准确检验口罩和晶片的行业的理想选择。