二手 BROWN & SHARPE Xcel 9-15-9 #9177715 待售

ID: 9177715
优质的: 2000
DCC Coordinate measuring machine Measuring range: X-Axis: 35.4” Y-Axis: 59.1” Z-Axis: 35.4” Distance between posts: 43” Distance under rail: 35” Black granite table: 51” x 86.5” x 8” Software: PC-DMIS Joy stick controls Renishaw PH-10MQ probe Renishaw SCR-200 6-Position stylus changing rack Renishaw maps 6-Position probe stand 2000 vintage.
BROWN&SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9是一种最先进的掩模和晶圆检测设备,用于确保一致性和准确性达到最高标准。其15英寸激光投影系统,旨在以无与伦比的精度、可追踪性和缺陷特性的重复性完善检测过程。该单元提供无与伦比的图像清晰度和测量精度,具有99.9%的可重复性,加上1微米分辨率。投影椭圆形、圆形和尖角的计算,加上线和边的测量,从而消除运算符变量。该机器包括两个一流的自动光学比较工具:Xcel晶片映射工具和Xcel晶片掩模检查器。晶圆映射工具能够测量全掩蔽和无掩蔽晶圆。采用先进的"光束位置感应"与传统的"模式识别"技术相比,确保了晶圆特征的最精确分析和比较。晶片掩模检查器评估不透明和透明材料的图样,同时提供有关掩模和晶片图样的极其准确的信息,以便检测缺陷。它还具有高性能成像工具和专有的光学字符识别技术,可快速数字化和比较掩模图样计划。Xcel 9-15-9资产与SEMI: Masker-Wafer Overlay Standard测量程序集成M1-1010,用于检查晶圆和掩码的设计和制造之间的差异。此外,该模型还提供了几个软件包,用于增强掩码和晶圆数据的管理和分析。TheXcel Mask Design Interface允许用户上传设计文件,然后创建一个mask计划,该计划可以针对现有的mask进行验证,并在制造前以3D形式可视化。"Xcel特征提取工具"可自动检测特征、几何形状和尺寸,以及掩码和晶圆映射,以识别阵列和相对距离。它允许用户同时比较多个晶片,以便以更高的精度测量特性。BROWN&SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9是每家半导体晶片公司的宝贵工具,在检查掩模和晶片特性时提供前所未有的精确度。它结合了自动化光学比较工具、高性能成像设备和软件包,为无故障生产提供了业界领先的准确性。
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