二手 BRUKER InSight 3D-DR #9293797 待售

BRUKER InSight 3D-DR是一种面罩和晶圆检查设备，设计用于集成电路的串联、无损3 D分析。它利用光学和X射线相结合的方法来测量半导体图样或样品的尺寸、地形和缺陷参数，精度约为0.6 µm。该系统能够对面罩、晶片和印刷电路板等广泛的样品进行单、双晶片检查。其基于光学的扫描技术具有高灵敏度和准确度检测缺陷的能力，即使特征密度极高。它还提供关于侧壁角和晶体管电流泄漏的全面反馈,使制造商和工程师能够放心地工作。InSight 3D-DR具有强大的用户界面,允许快速、轻松的设置和仪器控制。通过一系列扫描选项，用户可以根据自己的需求选择合适的参数来测量对象。这可以包括特征尺寸、平面角度、底切、表面粗糙度等的测量。该单元还具有针对不同类型样品自动优化成像参数和缺陷检测的功能，以减少误报。在成像方面，机器利用了一系列的高分辨率固态数码相机来检查甚至最复杂的图桉。它还可以通过动态HDR成像实现，以高对比度和无与伦比的分辨率捕获图像。数据写入可以在本地或远程访问的内部硬盘驱动器。用户可以快速轻松地导出图像或数据。该工具还允许访问几种常用的文件格式,包括DXF和PDF,以确保与现有系统的兼容性。总之,BRUKER InSight 3D-DR是一种先进、通用的掩码和晶圆检测解决方桉,可提供无与伦比的精度、快速的图像采集和自动化优化。它能够同时检查单晶片和双晶片,这使其成为需要快速周转和准确结果的大型项目的理想选择。