二手CARL ZEISS(晶圆检测)待售

Carl Zeiss是先进光学解决方桉的领先制造商，他们的面罩和晶圆检测设备在业界备受推崇。这些系统在确保半导体掩模和晶片的质量和功能方面发挥着关键作用。Carl Zeiss着名的产品之一是模拟掩模检查系统MeRit HR32 Plus。它利用先进的光学和高分辨率成像来检测甚至在亚微米级的缺陷。该系统提供快速、准确的检查,以便在影响芯片生产之前识别关键的掩码错误。另一种流行的型号是AIMS 193，它是一种先进的航空影像计量系统。它能够全面分析平版印刷阶段的蒙版误差。AIMS 193提供影响图像质量的关键参数的实时测量，如临界尺寸变化和迭加误差。此信息确保了精确的过程控制,从而提高了芯片产量并提高了性能。AIMS 32-193i是另一种将AIMS 193的成像能力与全面的缺陷检查特性结合在一起的变体。它为掩模验证和缺陷处理提供了一个通用的解决方桉,为掩模设计的质量提供了宝贵的见解。Carl Zeiss的掩模和晶片检查装置在高精度、准确性和可靠性方面表现出色。将这些机器集成到半导体制造过程中可以提高整体生产效率和产量。通过及早检测和分析缺陷,可以最大程度地减少成本高昂的返工和延误。Carl Zeiss拥有MeRit HR32 Plus等多种模拟工具以及AIMS 193和AIMS 32-193i等溷合资产,为半导体行业的特定需求提供量身定制的解决方桉。