二手 CARL ZEISS / HSEB Axiospect 300 #9397356 待售

CARL ZEISS/HSEB Axiospect 300掩模和晶片检测设备是一种通用、高度精确的半导体晶片、掩模和光掩模检测和分析自动化检测系统。此单元提供对整个表面积上的曲面、缺陷和迭加等特征的三维光学测量。HSEB Axiospect 300结合了高数值孔径（NA）和尽可能高的景深,提供极精细的聚焦和分辨率,实现了能够执行自动全表面检查和详细特征识别的亚微米分辨率。CARL ZEISS Axiospect 300结合了多种照明模式，以应对广泛的检查，使机器能够有效处理反射样品以及具有高表面地形变化的成像标本。Axiospect 300允许将缺陷分类为严格的标准,提供任何样品状态的清晰画面,并识别局部缺陷以及大规模污染。从最大颜色呈现到模具级检查（如电气测试标记）特征,机载图像采集几乎无休止的图像场景类型进一步增强了这一点。CARL ZEISS/HSEB Axiospect 300具有多种检查模式,从简单的大规模污染区域检查,到深入的光学检查,再到纳米分辨率。它易于定制,以确保更精确地针对任何客户的样本和需求进行定制。可以轻松地将报告和数据上载到网络进行远程存储,以及直接比较检查图像以快速识别任何错误或缺陷。它还包括各种配件，如脱壳解决方桉和专门的晶圆滑，使HSEB Axiospect 300可以用于各种行业。CARL ZEISS Axiospect 300可靠且易于使用,是进行掩模和晶圆检查的宝贵工具。