二手 CEI 651 #9271495 待售

CEI 651是一种高性能的自动掩模和晶片检测设备，设计用于提供可靠和可重复的质量保证和过程控制。该系统将最新的计算机视觉硬件和软件集成到一个直观易用的平台中。651利用先进的照明技术进行精确和可重复的成像。通过使用动态照明、投影和成像技术，这个单元能够检测到轻微的表面异常，从而产生准确的缺陷表征。CEI 651还配备了功能强大的照相机,可捕捉高质量、高分辨率的图像,同时将噪音降至最低。这样可以改进表面质量检查和更精确的缺陷检测。为确保准确性,651提供了多种高级图像处理技术,包括边缘检测、过滤和模式识别。所有这些功能使该工具能够快速准确地识别复杂掩模和晶圆曲面中的缺陷。资产还具有先进的数据分析算法，以促进操作员对分析结果的理解。此外，CEI 651还提供了光学图像分析仪（OIA）等高级缺陷分析工具。此OIA使用户能够快速轻松地将参考图像与样本图像进行比较,从而能够对任何差异进行更详细的评估。这可与OIA一起用于检查针孔缺陷以及其他次要曲面特征。651提供了可靠和可重复的质量保证和过程控制来源,这对于生产高质量的口罩和晶片至关重要。其先进的照明、相机和图像处理技术，以及先进的缺陷分析工具，使用户能够准确识别和表征复杂表面的缺陷。凭借快速直观的界面,CEI 651是一种用户友好且可靠的手段,可提高质量控制和成本效率。