二手 CHAUVIN ARNOUX CA 6425 #9352728 待售

CHAUVIN ARNOUX CA 6425掩模和晶片检验设备是一种半导体测试和测量系统，设计用于检验先进晶片和掩模光刻。配有内置光站，提供高分辨率数字成像检测缺陷。此单元具有直观的用户界面、自动功能和测量功能,可针对特定应用程序进行自定义。该检测机配备CHAUVIN-ARNOUX CA 6420/6421数字视频工具软件,这是一个集成开发工具,可提供直观而强大的图形用户界面来控制操作。此软件允许用户通过执行对比度、亮度和二进制操作来测量、分析和报告成像的晶片和掩码。CA 6420/6421视频工具软件还支持边缘掩码和孔掩码识别以及交叉标记等高级功能。CA 6425 Mask&Wafer Inspection的其他功能包括高分辨率和低分辨率成像的可变视场、不同类型的Mask和Wafer的多个照明选项、图像捕获和比较功能,以及自动缺陷分类和报告（ADCR）的扩展功能。CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask&Wafer Inspection tool可与多种不同的外部检查设备和配件集成，如电动Z-movement stage、电动和手动X-Y stages、数码相机、2D BGA pick-and-place和晶片级测量系统。为确保准确性，CHAUVIN-ARNOUX软件会根据具体应用仔细校准所有外部设备。此外,CA 6425 Mask&Wafer Inspection资产还可以与分析模块集成,从而实现缺陷评估以及缺陷分类和报告。分析模块为各种测试功能（如线条和边缘宽度、圆形和椭圆大小）以及配准精度提供自动测量和报告功能。总体而言,CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask&Wafer Inspection模型是一种直观且功能强大的设备,可提供高分辨率的成像、自动化和定制的测量功能以及集成的缺陷分析。它被设计为满足当今半导体制造业的高速晶圆和器件掩模生产要求。