二手 CRYSTAL 4095-1E #9392981 待售

CRYSTAL 4095-1E是由先进电子束显微镜产品和服务的领先供应商JEOL制造的掩模和晶圆检测设备。4095-1E通过结合最新的扫描电子（SEM）和原子力（AFM）显微镜来满足最苛刻的检查应用的需要。CRYSTAL 4095-1E具有强大的扫描电子显微镜，用于大电路晶片上的亚微米缺陷检测。该系统采用三轴微量定位器，以最高精度提供高精度测量。该单元还包括一台具有自动动态聚焦功能的高分辨率图像采集机，用于改进缺陷识别。另外，4095-1E先进的原子力显微镜使得纳米级缺陷检测在晶片上超出了SEM的范围。该工具包括高分辨率成像资产和自动缝合软件,可加快数据采集和改进缺陷检测。CRYSTAL 4095-1E还提供高性能显微镜光源，用于高对比度成像和先进分辨率。它包括用于基于模式的自动缺陷检测的专有模型视觉软件。该软件经过仔细校准，以检测复杂结构的制造过程中产生的附着力、粗糙度和其他缺陷。此外，设备与外部图像处理系统集成，提升图像质量，提升可用性。单位直观的触摸屏显示屏让用户轻松调整机器参数，快速有效地进行数据分析。4095-1E提供了一个功能强大和通用的工具来执行掩模和晶圆检查。CRYSTAL 4095-1E凭借其先进的扫描电子和原子力显微镜、高分辨率成像系统以及精密的软件设计，甚至可以满足最苛刻的掩模和晶圆检查应用。