二手 DATAPHYSICS ACA 50 #9123550 待售

製造商
DATAPHYSICS
模型
ACA 50
ID: 9123550
优质的: 2001
Fully automatic contact angle measurement systems Programmable, video-based Holds up to (6) ES-A electric dosing modules SCA-50 software package ver. 1.21 Build 74 WT200E Motorized measuring stage adjustable in (3) axes Lens mount with motorized adjustable tilt Motorized zoom with software controlled aperture, magnification, and focus High resolution CCD camera with video frame grabber Windows NT 4.0 running full graphical user interface with 32 bit software Analysis of drop according to Pendant Drop method Multiple sample holders (includes 6" and 8" wafer holders) 2001 vintage.
DATAPHYSICS ACA 50是一款功能强大的掩模和晶圆检测设备,设计用于半导体织物。它提供了晶圆基缺陷和污染的精确缺陷和地形测量。它能够检测到小至0.07 µm的亚波长缺陷,从而实现高分辨率成像和分析。该系统采用一种正在申请专利的自适应对比度技术,调制图像的亮度和对比度,以获得更好的检查结果。这在检查过程敏感缺陷和污染时非常重要,对于布局复杂的设备尤其有用。该机使用红外线光源,准确安全。它还具有先进的多光谱成像分析机,能够同时获取图像数据与多个滤波器。这确保了准确和可重复的结果,即使有不同的样品类型和底物。ACA 50具有用户友好的用户界面,便于设置和操作。它还包括各种高级功能,以提高检查任务的效率和准确性,包括自动晶圆配准、背景补偿、缺陷缩放、图像缝合、图像优化和阶段对准。该工具具有用于自动处理样本的集成阶段。它配备了电动X-Y机械级,支持6 "x6"的最大样本量。该阶段配备了专有技术,以确保样品的精确定位和对准,以便进行高效检查。该资产与定制开发的软件工具库集成在一起,以帮助减少检查时间并提高准确性。这些工具包括缺陷跟踪工具、图像预处理模块和晶圆级分析模块。它还包括一个基于GUI的缺陷分级模型和一个存储和组织所有检测数据的集成缺陷分析数据库。DATAPHYSICS ACA 50旨在提供快速、准确和可重复的自动晶片和掩码检查过程。通过为用户提供全面的分析功能和高效的自动化,设备有助于降低总体成本并提高产量。
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