二手 DAVIDSON D 305 #117235 待售

DAVIDSON D 305 Mask&Wafer Inspection Equipment是一种精密仪器，用于识别Mask和Wafer中的缺陷。这台自动化机器将高分辨率光学功能与用于故障分析的强大数据处理相结合。它对直径可达300 mm的晶片提供开销和侧视图检查。该系统被设计为一种适用于广泛应用和工业环境的通用解决方桉。它可以检测微小的缺陷，如划痕、缺失的图桉和颗粒，同时为观看者提供高分辨率迭加的全彩色图像。它提供了许多设置,包括有效的缺陷大小、阈值设置以及缺陷类型和位置。D 305利用先进的算法，利用合并的光学和图像处理系统检索到的信息，为用户提供准确的缺陷测量。这有助于加快决策，提高流程效率。此外,该单元还配备了功能强大的数据分析程序,使用户能够快速轻松地识别缺陷并确定其特征。机器还具有先进的用户界面，使操作员能够快速方便地操作和维护工具。使用直观的菜单,用户可以快速访问可用的设置和功能。还可以使用外部控制实验室视图快速访问、监视和控制所有连接的设置。DAVIDSON D 305专为需要先进但易于使用的掩模和晶圆检查资产的用户而设计。它提供可靠的数据收集、测量和分析,以帮助识别缺陷并确定其特征。它是一个强大的模型，为满足个人用户需求而量身定制，为用户提供快速可靠的设备。