二手 ESI / MICROVISION 3900 #9255776 待售

ESI/MICROVISION 3900是一款完整的掩模和晶圆检测设备，结合了精确成像、高级缺陷审查和深入的数据分析，提供了先进半导体工艺所需的鲁棒缺陷检测和分类。该系统利用先进的光学、智能算法技术以及广泛的数字图像捕获和分析工具，为掩模和晶片提供快速可靠的检测。掩模和晶片由ESI 3900的自动化高分辨率镜头单元扫描。镜头机包括手动或自动变焦、对焦和曝光调节的便携式相机。这有助于优化蒙版和晶圆检测的图像放大倍率。它还具有板载监视器,以各种模式显示图像,以便快速确定缺陷。MICROVISION 3900提供具有数字成像技术和先进缺陷检测算法的高速掩模和晶圆检测。这使工具能够快速准确地找到小的、难以检测的缺陷。它甚至可以通过多个放大倍数检测缺陷,使工程师能够快速找到给定产品中最容易出现故障的部分。3900设计具有先进的晶圆检测能力。它快速准确地分析了从粗糙到超细的整个晶圆布局特征范围。它还可以检查和检测光刻缺陷、粒子和污染、电阻率和表面地形。ESI/MICROVISION 3900利用灵活的图形用户界面、可调节的工作流和强大的图像分析工具来简化数据处理。它还支持高级自动化选项,包括可编程数据存储和检索、自动缺陷检测和缺陷分类。这消除了对大型图像的重新扫描,并允许快速、精确的缺陷分类。总体而言，ESI 3900是目前最可靠、效率最高的掩模和晶圆检测系统之一。它非常适合需要高速、高分辨率成像的高级半导体工艺。它的功能使工程师能够快速发现难以检测的缺陷并简化其生产过程的效率。