二手 ESI / MICROVISION 882 #9104381 待售

ESI/MICROVISION 882 Mask&Wafer Inspection Equipment是世界领先的半导体工业缺陷分析计量和成像技术。它的特点包括非接触成像和自动缺陷检测,在用于检测和测量掩模和晶片表面问题时提供了无与伦比的准确性,从而大大缩短了加工和分析生产批量的时间。ESI 882利用两个组件提供了高级缺陷识别体系结构。首先是一个光学系统，它提供了一个高分辨率的放大图像的表面，从而允许精确识别甚至最微妙的不规则或缺陷。其次是利用神经网络扫描图像中存在缺陷的缺陷检测算法，然后根据缺陷的各自特征对其进行分类。MICROVISION 882面罩和晶片检查组提供了广泛的功能,使用户能够根据自己的特殊需求定制机器。它支持手动和自动操作,包括三种照明选项以进行最佳分析,即可见模式、紫外线模式和红外模式。它还提供了几种大幅面传感器和各种模式识别功能的选择。该工具可用于各种基板上，从金属到光学材料，并能在平面和垂直尺寸上确定从µm不等的缺陷大小。此外，它还配备了高达1000X的放大能力，为缺陷识别提供了出色的分辨率。882 Mask&Wafer Inspection Asset还带有直观的用户界面,可轻松访问各种软件功能。它配备了用于显示结果的高级图形工具,使用户能够更轻松地发现缺陷,此外,它还提供了"操作员分析帮助",提供直观的指导,极大地促进了缺陷的扫描和分类。利用ESI/MICROVISION 882掩模和晶圆检测模型,用户可以享受到针对其特定行业需求而量身定制的先进、可靠的缺陷检测技术。它为半导体制造提供了一个绝佳的平台,通过简化分析和优化过程帮助降低缺陷和生产成本。