二手 ESI / MICROVISION MVT 7080 #293607230 待售

ESI/MICROVISION MVT 7080是为半导体检测而设计的掩模和晶圆检测设备。它结合了先进的光学和软件技术，为复杂的掩模和晶片提供高分辨率成像。该系统可以检测到一系列缺陷，包括开放、短、孤立和布局缺陷，以及颗粒、污染物和光掩模瑕疵。该装置利用一个强大的显微镜成像机器来捕捉面具和晶片的详细图像。该显微镜采用4倍电信中心变焦光学，能够以可重复的方式捕捉高分辨率图像。成像工具还包括滤镜和光源，用于检查掩模或晶片的表面细节。图像捕获资产被耦合到计算机控制的XY阶段,以便进行像素级扫描。该检测模型配备了专门的自动化缺陷分析工具。该分析工具能够利用图像处理算法的组合检测和分析缺陷。算法使用预定义的库数据来准确确定缺陷相关特性。软件还配备了用户界面，可以方便地操作设置和自动计算缺陷相关参数。ESI MVT 7080被设计为一种多功能的面罩和晶圆检测设备。它采用模块化设计,可轻松与其他系统集成,从而实现快速、轻松的安装。该系统还可以通过网络连接进行远程操作，以便进行异地管理和监测。它专为24/7操作而设计，保持了高质量和精确度。总体而言，MICROVISION MVT 7080是一个先进的掩模和晶圆检测单元。它结合了强大的光学和软件技术来检测和分析复杂的缺陷。模块化的设计使安装和集成变得容易，并且机器是为全天候运行而设计的。这使得该工具成为检测和分析半导体应用缺陷的理想选择。