二手 ESTEK / ADE CR-80 #293765745 待售

ESTEK/ADE CR-80 Mask&Wafer Inspection设备是一种用于半导体Mask和晶圆制造的自动化光学检测解决方桉。该系统可为多个部件提供高分辨率成像和深亚微米缺陷检测，并利用最先进的硬件和软件确保准确准确的测试结果。ADE CR-80单元具有广域光学技术，具有渐进扫描、多成像源和四种彩色光度量滤波。这与交互式3 D相机相结合，提供高分辨率成像和深亚微米缺陷检测。机器可以检查各种面膜和晶片，其中包括光掩模、晶片、光刻光栅、WLCSP基板和颠簸。它还提供多维视图和统计数据分析。ESTEK CR-80具有精确的图像采集和缺陷检测功能,以及一系列图像处理和统计过程控制功能。该工具能够逐个像素地检测测量和检查缺陷。资产还可以检测低对比度缺陷，防止虚假检查。它还具有数据挖掘功能，可以分析和比较晶圆缺陷图像。CR-80的内置数据管理功能使客户能够轻松检索和查看图像以及设置和管理检查。该模型还提供专门的工具箱和强大的批量检查,使用户能够使用多种技术高效地插入、测量和检查部件。ESTEK/ADE CR-80具有高精度和高吞吐量,可实现高产率和最小化面积废品率。除了ADE CR-80设备外,ADE还提供跨安装、故障排除和现场培训的支持和服务。还提供软件和支持服务,可以简化制造过程并最大限度地提高生产成果。该系统旨在使用户更容易有效地监视和跟踪其制造过程,以及改进其制造和降低成本。