二手 ESTEK WIS-900 #293595286 待售

ESTEK WIS-900是一种先进的掩模和晶片检测设备，旨在在以最高速度检测先进技术内存和逻辑晶片的同时提供卓越的准确性和可重复性。其集成软件使用户能够快速准确地检测和识别晶圆和掩模中的潜在缺陷，并以高精度率获得高收益结果。该系统由两个部分组成：一个计算机控制的扫描单元，用于检测半导体晶片和掩模中的任何不规则性或缺陷；一个全面的数据采集和显示机器，用于显示强大而准确的缺陷变异性。WIS-900使用先进的视觉工具来提高检查速度和准确性。其软件包括用于提取各种缺陷参数、创建和显示测量结果以及生成报告的一系列特殊算法。扫描设备采用移动级和扫描摄像机,分辨率为4 μ m,用于检测基板上的不规则性,同时检查多达三种不同的材料。引入先进的图像处理技术，大大提高了模型检测缺陷的能力，使缺陷的大小降低到0.5- μ m。扫描速率为每小时200个晶圆,每个晶圆最多8,000个测量值。扫描字段大小是用户可选择且可调整的,因此允许进行全晶片缺陷检查。所有测量结果以及缺陷图像都可以保存并显示在ESTEK WIS-900上。设备为用户提供全面的缺陷分析和报告，如缺陷大小、位置和类型。统计信息、过程信息可以通过故障数据和排序数据来捕获和显示,也可以通过点、冲浪、线图和区域图来显示结果。WIS-900的通用控制、数据收集和显示使流程和质量工程师能够根据自己的兴趣和要求定义和显示信息。ESTEK WIS-900是识别和分类半导体器件上的小缺陷的一种非常有效和可靠的方法。除了改进缺陷检测外,系统还改进了误差校验、监控和屈服.它既方便用户,又提供高质量的缺陷分析。该装置的坚固性为所有类型的掩模和晶圆检查提供了安心和长期的可靠性。