二手 FAMECS FRNB-750SA-8E-SV #9259382 待售

FAMECS FRNB-750SA-8E-SV是一种掩模和晶圆检测设备，旨在对半导体应用进行高效、准确的评估。该系统设计为多用途，具有高分辨率摄像头、自动对焦和帧合并以及多位置光源等功能。该装置具有高分辨率CCD摄像机和光源组合，能够获得高精度的掩模和晶片图像。CCD相机能够捕捉到4,000倍的蒙版和晶圆图样放大图像，分辨率高达10的。CCD相机结合了具有自动对焦和帧合併功能的专用镜头，用于成像困难的几何形状，如CD（临界尺寸基板）。该机还设计了多位置光源，便于从不同角度获取图像。这在揭示蒙版和晶片上难以捕捉的特征时特别有用,例如斜角或深蚀刻图桉。这种多位置光源的好处是在捕捉到的图像中具有更大的完整性和准确性，这是由于检查了多种视角。除此之外，掩模和晶片检查由于能够从一帧捕获的各种角度快速查看而变得更加高效。该工具设计为用户友好与直观的图像反馈面板。它包含了多种图像和基于趋势的反馈和统计信息,例如最小/最大强度、像素总数等。此面板允许用户查看、检查和验证从CCD摄像头获得的图像。该资产还具有利用测量和判断功能对电路模式进行缺陷分析的能力。用户可以通过计算每种模式的最小/最大大小、每种模式的面积大小百分比或其他统计特征,快速判断和验证电路模式的质量。FRNB-750SA-8E-SV Mask and Wafer Inspection Model旨在通过其高分辨率CCD摄像头和多位置光源组合,为用户提供一种功能强大且高效的设备,以捕捉高质量的Mask和Wafer图像。其直观的图像反馈面板和缺陷分析功能使执行检查和验证成为一个快速、高效的过程。对于需要准确快速评估其半导体应用的用户来说，这是一个很好的解决方桉。