二手 HENNECKE He-WI-03 #9071444 待售

HENNECKE He-WI-03是一种用于光学图样测量应用的掩模和晶圆检测设备。其高分辨率成像传感器产生出色的图像质量，使研究人员和工程师能够准确检查掩模图像并评估缺陷定位。该系统采用紧凑设计，单显微镜，适配CCD相机单元，定位机。显微镜捕获高分辨率图像，放大幅度可达64倍，可调整以聚焦0.5毫米至3.5毫米大小的晶片。这种精确的缩放和聚焦范围使得它非常适合在高精度水平捕获晶圆图样的详细图像。相机工具配备了先进的电荷耦合器件（CCD），可以以12位增强色深捕捉高达500万像素的图像。它还具有先进的图像处理资产,使用户能够检查图像的特定缺陷并准确确定缺陷定位。该型号的定位设备不仅允许精确的晶圆图像捕获，还支持在显微镜中自动放置掩模图像。这样可以确保放置在显微镜中的图像与掩模正确对齐,从而消除用户错误并简化测量。He-WI-03还与特殊软件集成,用户可以将客户掩码图像与内部生成的掩码和缺陷图像进行比较。此外,该软件还使用户能够可视化图像中的缺陷位置和分布,从而提高检查过程的准确性。该系统提供准确可靠的数据，适合在线和离线使用。HENNECKE He-WI-03具有增强的图像性能和方便用户的软件,使识别和分析晶片缺陷变得更加容易。