二手 HENNECKE HE-WI-05 #9168043 待售

HENNECKE HE-WI-05掩模和晶片检查设备是一种自动化系统，用于在集成电路掩模和晶片用于设备制造之前对其进行检查。该设备提供高分辨率成像、可靠的缺陷检测以及不同生产批次的可重复测量。它是专门为满足半导体行业的严格要求而设计的。HE-WI-05采用激光光学机器，利用一种称为散射法的成像技术来测量IC掩码和晶片的拓扑。该工具包括一个数字CMOS相机和激光照明器，用于捕捉被检查部件的高分辨率图像。然后使用高级图像处理算法对图像进行处理,以检测任何表面缺陷,如划痕、颗粒、瑕疵等。该资产可配置不同的分辨率和孔径，允许检查小型和精细结构。此外，HENNECKE HE-WI-05融合了自动对焦控制，采用高速电动变焦镜头调节相机对焦。这样可以确保模型捕获的图像精确聚焦。该设备还包括物镜表面检查系统，用于实现特殊形式的散射测量。此单元还提供裸露特征和特征大小的非接触测量。HE-WI-05也可以配置为从检查中收集统计数据。这包括缺陷的数量和大小以及其他表面质量等信息。这可以用来提供关于生产过程的全面质量保证报告。总体而言,HENNECKE HE-WI-05掩模和晶片检测机是一种先进的工具,可提供精确、可重复和可靠的IC掩模和晶片测量。它提供了用于准确缺陷检测的高质量图像，以及用于质量保证的统计数据。这使得它成为半导体行业不可或缺的工具。