二手 HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9293877 待售

HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP是一种掩模和晶圆检测设备,可提供高精度和精确度,用于识别复杂、高密度图案设计中的微观缺陷和特征。该系统采用先进的图像处理和创新算法相结合，快速彻底地检查掩模或晶片的两侧。HMI eP3 XP包括强大的激光扫描技术，可以快速准确地收集高分辨率的立体声数据。该单元使用2相机、非接触式成像机提供掩模或晶圆的全场立体图像。其专有的模式识别软件支持自动缺陷检查和3D配置文件特征检测。HERMES MICROVISION eP3 XP使用的专有视觉平台使用了复杂的三维（3D）分析成像工具来快速识别和隔离最小的缺陷或特征。该资产旨在将缺陷检测和广域成像降低到纳米精度。该模型还包含许多使其直观和用户友好的功能,包括易于使用的图形用户界面（GUI）。这使用户能够快速高效地访问各种工具。设备还提供多层功能,使操作员能够配置对单个特征类型的检查。HMI eP2 XP是一个健壮的系统，适用于多种应用，如先进的制造掩模和模具的检测和缺陷检测，集成电路（IC）晶片。它具有许多功能,使其成为任何掩码和晶圆检查应用程序的绝佳选择,例如,其经过验证的缺陷检测和3D曲面轮廓分析功能。总体而言，eP3 XP掩模和晶片检验装置是一种先进的、用户友好的机器，它提供了检查掩模和晶片的缺陷和特性的最终能力。通过利用最新技术,该工具能够快速准确地检测微观缺陷和特征,帮助确保产品和工艺质量达到最高水平。直观的GUI和多层功能进一步增强了资产的可用性和实用性,使其成为任何掩码和晶圆检查应用的绝佳选择。