二手 HERMES MICROVISION / HMI eP3 #9285021 待售

HERMES MICROVISION/HMI eP3是一个掩模和晶圆检验系统，旨在满足最苛刻的半导体生产要求。它能够为所有类型的掩模和晶圆生产提供最高精度的测量和计量测试。HMI eP3是光学晶片审查、缺陷分析、光刻检查、屈服管理和阵列晶片光学审查等应用的理想选择。它的自动图像采集和处理技术能够检测到任何不可预见的错误并准确处理这些错误。HERMES MICROVISION eP3配备了智能成像能力和强大的照明系统，拥有多种软件工具来调节数字图像的捕获，以及测量的范围和准确性。这样可以确保对掩模和晶片缺陷进行准确的评估和标记,以便进一步检查。EP3得到了HERMES MicroImage软件套件的支持，该套件旨在为图像分析和缺陷审查提供全面的方法。此软件套件提供各种预定义的图像视图,包括垂直/水平/对角线翻转图像、对比度增强、放大图像或扩展视图,以详细分析检查结果。此外,HERMES MICROVISION/HMI eP3还提供了优越的光学器件和更高的图像分辨率锐化率,允许根据样品亮度的均匀性调整曝光时间。这优化了曝光极限范围，提高了图像捕捉的准确性。此外,HMI eP3还配备了直观的用户友好界面,为操作员提供了访问和更改设置的所有必要工具。其用户标记的功能和快捷方式保证了在安装和执行时节省操作时间。综上所述，HERMES MICROVISION eP3是一个全面可靠的掩模和晶圆检测系统，具有多种特性和功能，非常适合半导体生产。其自动化的图像采集和分析使其能够提供准确可靠的结果。此外,它的用户友好界面确保了快速、直接的设置过程。