二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #9263048 待售

HERMES MICROVISION / HMI eScan 400
ID: 9263048
晶圆大小: 12"
E-Beam defect inspection system, 12".
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400是一个最先进的扫描掩模和晶片检查系统,设计用于半导体晶片和光掩模的自动检查。HMI eScan 400系统由微观成像子系统、自动标本级、模式匹配软件、晶片加载子系统和多个数据存储子系统组成。显微成像子系统由高分辨率电荷耦合器件(CCD)相机和物镜组成。此子系统以卓越的清晰度和清晰度捕获晶片和掩码的精确、高分辨率图像。自动标本级是计算机控制的XYZ级,用于精确对准晶圆或掩模,然后以精确的方式在成像区域中移动。这样可以确保组件的精确和可重复成像。模式匹配软件用于自动将捕获的图像与数字模型或参考设计进行比较。然后,它将查明实际元件与模型设计之间可能存在的任何差异。晶片加载子系统能够快速连续成像多个晶片,从而减少了扫描大量组件所需的时间。数据存储子系统允许捕获、存储和检索成像数据。然后,此数据可用于记录组件更改或问题,从而能够快速高效地采取纠正措施。最后,HERMES MICROVISION eScan 400是一种先进的扫描掩模和晶片检测系统,可提供可靠、准确的晶片和光掩模成像。其自动化的XYZ阶段、模式匹配软件、晶片加载器和数据存储子系统提供了半导体制造商为质量控制目的所需要的速度、准确性和可重复性。
还没有评论