二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #9311075 待售

HERMES MICROVISION / HMI eScan 400
ID: 9311075
优质的: 2011
E-Beam defect inspection system Process: Metro 2011 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400是一种高分辨率的掩模和晶片检查设备,设计用于对有图样的掩模和晶片进行精确和高效的成像和分析。它提供了多种软件和硬件组件,为检测、诊断和纠正芯片和薄基板上的缺陷和不符合要求提供了全面的解决方桉。HMI eScan 400具有具有多像素阵列的高灵敏度、低噪声CCD成像系统,便于捕获晶圆和掩码的极高分辨率图像。该单元还具有坚固的横截面图像采集和显示能力,用于识别小缺陷或一致性。HERMES MICROVISION eScan 400具有高速、单轴晶片级,提供高达0.01 m的重复性和50 mm的视场。它还支持快速的舞台动作和样品交换。除了舞台,机器还附带了几个为各种任务设计的软件程序。在图像分析和测量方面,该工具提供了强大的边缘检测算法、可靠的模式识别算法以及有效的基板和组件分析在线检测工具等特殊应用。而且,eScan 400具有高度集成的数据处理资产。它使用功能强大的软件程序进行数据选择、显示和报告。这一集成模式有助于与主机系统和其他计算机控制系统进行高效通信。此外,设备可以储存结果,方便不同晶片或掩模的性能评估和比较。HERMES MICROVISION/HMI eScan 400系统还包括设计良好的用户界面和易于使用的图形用户界面(GUI)以及用于远程配置、优化和监控的广泛功能。此外,该设备还具有用于晶圆识别的直观导航机器。综上所述,HMI eScan 400是一种高性能、经济实惠的蒙版和晶圆检测解决方桉。它结合了高灵敏度CCD成像工具和强大的边缘检测和模式识别软件程序,精确检测、诊断和纠正芯片和薄基板上的缺陷和不符合要求。其集成的数据处理和用户界面使其易于使用。这种高效可靠的资产非常适合高分辨率成像和精确检查图样晶片和掩模。
还没有评论