二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 500 #9281328 待售

HERMES MICROVISION/HMI eScan 500是一种用于评估半导体晶片和网状体质量的掩模和晶片检验设备。它为晶片结构缺陷的检测、测量和分类提供了一个全面、高分辨率的晶片视图。这个先进的系统使用扫描电子显微镜和高分辨率数码相机来检查半导体晶片和掩模的表面。HMI eScan 500单元设计了符合人体工程学的平台，允许方便地访问集成显微镜、数码相机和其他组件。作为机器一部分的数字电动X-Y级允许精确的样本对准和导航。用于此计算机的扫描控制软件对用户友好,可以配置为确定正在检查的晶圆、掩码和标线的大小和类型。HERMES MICROVISION eScan 500还附带了自动缺陷检测和分类工具，可用于检测和分类各类随机分布的缺陷。该资产采用紫外线拉曼显微镜和图像分析设计，用于查明缺陷的位置，并根据大小、形状和类型进行分类。该模型还自动从被检查样品的所有特征中获取数据，从而消除了用户的手动输入。除了缺陷分析外，eScan 500设备还能够对晶圆、掩模和标线的各种特征进行测量。这包括测量,例如线宽、边轮廓、迭加和电阻率。此外，该系统还能够评估晶圆或标线的变化应变水平。所有这些数据都存储在数据库中,供以后查看和分析,从而提高了机器的效率。总体而言，HERMES MICROVISION/HMI eScan 500是一个检查半导体晶片和标线的强大单元。它提供了样本的全面视图，允许用户调查和分析组成晶圆的各种成分。自动缺陷检测和分类机为机器增加了效率，而测量能力提供了对样品的准确分析。总而言之，这种工具对于确保质量达到标准至关重要。