二手 HERMES MICROVISION / HMI SEIEP4 #9284624 待售

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HERMES MICROVISION / HMI SEIEP4
已售出
ID: 9284624
E-Beam inspection system.
HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4是一种用于半导体工业的掩模和晶圆检测设备。它是一个具有集成图像处理能力的自主系统,精确、同步地检测大面积的基板,精度高、速度快。其先进的光学单元能够执行边缘识别、对比度控制、对比度增强、颜色分割、自动晶片检测等操作。HMI SEIEP4包括一个可控的照明器,用于变化的照明或背光条件.该照明器可用于对平面和弯曲物体执行检查和成像任务,使其具有更大范围的图像分析能力。此外,它还可以同时执行多个检查和高速检查,图像捕获速率高达30帧/秒。该机还具有高分辨率CCD摄像头,可捕获高分辨率和高精度旋转级的详细图像和光学镜头。CCD相机提供从8位到16位灰度图像的各种数字图像大小,包装到Full RGB、多重TIFF或CMOS原始单一图像。相机的分辨率是可定制的,可用于对准、检查、图像分割和识别等像素操作。HERMES MICROVISION SEIEP4包括许多确保准确性和可靠性的功能,包括用于分析图像数据、晶圆宏编程、模式识别和计算机辅助设计(CAD)的质量保证工具。其高性能处理器允许高效的图像处理,而其内置内存则允许预编程的图像检查和图像数据结构分析。此外,它与其他HERMES WAFER检验工具高度先进的集成,使客户能够轻松管理多个检验任务。SEIEP4是一种功能强大的掩模和晶片检查工具,专为高精度、高速的应用而设计。其集成的光学工具、CCD摄像机、旋转级以及众多其他功能增加了其检查和分析能力的范围。从质量保证到自动检测和图像分割,HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4是任何半导体行业的绝佳选择。
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