二手 HIMS NMI-100 #9234652 待售

HIMS NMI-100是一种具有最先进的光学和IT技术的掩模和晶圆检测设备。该系统提供了掩模和晶片整个表面的绝佳视图，使其能够检测纳米尺度的缺陷。NMI-100使用具有先进散焦测量技术的高分辨率自适应光学器件和强大的照明照明装置来检测即使在密集图像中的非常微妙的缺陷。先进的光学、图像处理算法和精密机器人技术的独特结合，能够检测和测量小至1nm的粒子和缺陷。HIMS NMI-100的扫描机可以配置多个晶片级，允许高通量的检查而不牺牲精度或精度。该工具还配备了高精度的机动化级，用于晶片和掩模的精确和可重复定位。此外,该资产还能够分析具有多达数千种特性的芯片的高密度区域。NMI-100具有高度优化的批处理体系结构,可实现最高的准确性和吞吐量。"检查"模块可同时扫描多达8个掩码和8个晶片,最多可支持16个掩码和16个晶片批次,从而提高效率和准确性。该车型还支持两种并行检测渠道，一次运行两种不同产品类型的检测。HIMS NMI-100还配备了强大的缺陷分类设备，可以根据其类型自动分离缺陷。该系统能够分割颗粒、隔离缺陷和故障沉积缺陷，对缺陷类型进行准确分析，同时降低误报率。NMI-100能够识别可重复的缺陷,并具有可靠的图像处理算法以及高吞吐量检查信息。对错误警报位置和错误的自动检测和拒绝使HIMS NMI-100能够准确检测缺陷,即使在密集的图像中也是如此。此外,设备还可以识别低至1nm的缺陷大小,从而可以检测到非常小的缺陷。NMI-100是用于掩模和晶片检查的宝贵工具,提供了一套全面的技术能力和卓越的精确度。机器提供的高通量和准确的结果使其非常适合用于制造和测试环境。