二手 HITACHI LA-3100 #293643617 待售

HITACHI LA-3100 Mask and Wafer Inspection Equipment为用户提供了一个全面的检查系统，用于晶圆和Masks的目视检查。采用高分辨率彩色相机进行成像缺陷检测，采用256K像素CCD成像芯片进行缺陷检测。该单元带有12位A/D转换器和用于检测缺陷的多个图像处理算法。它为全面和部分检查提供支持，并且能够识别晶圆或掩模上存在的各种类型的缺陷。机器上的用户友好软件使浏览工具的不同功能和控制参数变得容易。启动资产后,用户将获得7英寸的自我解释直观监视器,该监视器包含以下功能：用于缩放的滑杆、焦点和其他参数、用于自定义的标准菜单,以及用于不同类型检查的多个软件包。该模型还具有高分辨率的数字图像输出，确保了卓越的数据质量。LA-3100提供高级图像处理功能,包括缺陷检测、明域/暗场检测、缺陷分类和密度分析。它还能够执行多种检查模式，包括全场、左右比较、横向搜索、二元化等。此外,它还包括一个过滤条件调整功能,允许用户调整设置,以便更好地检测特定缺陷。该设备的一个重要方面是易于维护。用户可以轻松访问所有必要的部件,以确保系统的完整维护和维修。用户还可以轻松地将设备参数传输到其他HITACHI系统。总体而言,HITACHI LA-3100面罩和晶圆检测机是寻求可靠、通用检测仪的用户的绝佳选择。它提供了用于检测、分类和分析各种晶圆和掩模缺陷的高级特性和功能。该资产还提供出色的用户支持,使用户能够快速轻松地接收更新和信息。