二手 HITACHI LS 6800 #9149619 待售

HITACHI LS 6800
製造商
HITACHI
模型
LS 6800
ID: 9149619
晶圆大小: 8"-12"
Non-pattern wafer particle inspection system, 8"-12" 40 nm.
HITACHI LS 6800是由HITACHI High Technologies开发的业界领先的口罩和晶圆检测设备。该系统是一种高性能、高精度的产品,旨在为客户提供用于识别半导体晶片和掩模缺陷的可靠、准确的解决方桉。该单元提供了广泛的功能,允许快速、可重复和高精度的检查,适用于许多不同类型的产品和工艺。HITACHI LS6800采用了多种光学成像技术,包括独特的光学图像波前分析功能,甚至可以检测产品表面最小的缺陷。使用多种不同的光源来识别各种类型的缺陷,包括可见光、紫外线和激光。机器还可以配置多种软件,允许用户根据自己的具体需求定制检查速度、能力和精度水平。该工具还包括各种图像传感器和光学组件,使用户能够获得对晶圆和掩模位置以及缺陷大小的高度精确的测量。通过使用这些组件,用户可以准确识别产品上的最小缺陷。此外,还可以使用光学模式匹配功能来识别肉眼可能不明显的缺陷。为改善整体工作流程,LS 6800配备了先进的3D Inspection Asset。此模型能够从多个角度分析图像,从而更容易从单个角度识别隐藏或难以看到的缺陷。凭借其强大的参数数据库,用户可以轻松存储特定作业和过程的参数,使检查过程更加高效准确。总体而言,LS6800是一种功能强大且用途广泛的掩模和晶片检查设备,能够对各种产品和工艺进行准确和可重复的检查。其全面的特性、图像传感器和光学元件阵列,使其成为许多不同类型的半导体检测要求的完美解决方桉。凭借可靠准确的结果,HITACHI LS 6800是寻求可靠、高性能、经济高效的检测系统的客户的理想选择。
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