二手 HORIBA PR-PD2 #293747971 待售

HORIBA PR-PD2是一种掩模和晶片检测设备，对先进的半导体器件提供可靠的质量控制和缺陷分析。该系统结合了亮场和暗场光学器件，以高达1.9µm的分辨率对掩模和晶片进行成像，产生高达94%的缺陷检测率，并与各种掩模、晶片和基板兼容。暗场和亮场系统都利用高端光学器件和高效的日光灯来提供精确和精确的图像。HORIBA PR-PD 2具有自动缺陷检测单元,可快速检测各种类型和大小的缺陷。提供了多种解析工具和特征集，包括粒子分析、晶圆图检验、几何图样匹配。有了粒子分析特征集，PR-PD2就能检测到晶圆和掩模中的微粒，大小从4微米、5微米和6微米。晶圆图检查特徵允许自动分析晶圆图，允许侦测由暗粒子或明亮粒子所造成的不完全图样或扰动。最后,几何阵列匹配功能可实现自动阵列匹配,从而无需手动审阅和提高准确性。PR-PD 2带有几个不同的接口，如串行端口、网络端口和图形用户界面，允许轻松集成到现有的检查过程中。此外,可以根据检查设置将计算机配置为在专用或共享服务器上运行。该工具软件可安装在任何操作资产上,并由PC控制,以便于操作和数据共享。HORIBA PR-PD2还配备了功能强大的远程控制选项,允许用户通过互联网连接从任何PC或笔记本电脑控制模型。HORIBA PR-PD 2已认证符合各种行业标准,包括SEMI、JEDEC和JIS。设备的设计和制造符合严格的标准，保证了检验和质量控制过程的可靠性和准确性。总体而言,PR-PD2是一个先进而可靠的掩码和晶片检测系统,可提供出色的缺陷检测率、与各种掩码、晶片和基板的兼容性,以及使用一系列功能集和分析工具的自动缺陷检测。该设备可以轻松集成到现有的流程中,并通过任何具有互联网连接的PC或笔记本电脑进行控制,使其成为希望确保产品质量的半导体制造商的理想选择。