二手 HORIBA PR-PD2 #293778203 待售

HORIBA PR-PD2是一个高度先进的掩模和晶片检查系统，旨在提供对高级掩模和晶片中关键缺陷的高精度和高速分析。该系统由双光源高速检查组组成，配备了两个独立光源，一个8X物镜和一个宽视野。此外,系统还使用高级CMOS传感器,实现高速、高分辨率的图像捕获。这还得到了HORIBA图像分析工具箱（HIAT）软件的补充,该软件允许检测、识别和量化正在测试的掩模和晶片上的缺陷。HORIBA PR-PD 2的双光源高速检测仪能够处理各种各样的晶圆和掩模尺寸、形状和厚度。它的八倍（8X）对象镜头提供了广阔的视野，允许全范围的缺陷检测和临界测量。高速检测单元具有可调孔径，对控制景深、保证高精度很有用。先进的CMOS传感器提供高速、高分辨率的图像捕获,允许完全解决掩码或晶片上的缺陷。高级传感器进一步得到全套图像处理工具的支持，包括3 D缺陷映射、自动对比度设置和降噪算法。先进的HORIBA HIAT软件与双光源高速检测单元集成，提供鲁棒性缺陷检测和分析。该软件利用模式分析和机器学习算法来检测、识别和量化缺陷，以便进一步处理。此外,HIAT还提供了强大的图像过滤工具,以实现准确高效的缺陷筛选。它还提供了一套缺陷处理算法，包括焦点距离控制和统计标记。最后,PR-PD2结合了强大的硬件和软件功能,为关键掩码和晶圆缺陷提供了准确可靠的分析。先进的双光源高速检测仪和CMOS传感器与HORIBA HIAT软件相结合，为掩模和晶片的检测和分析提供了一个独立或串联的有效解决方桉。所有这些功能都有助于确保准确的审查和执行重要的测量,进一步优化生产过程。