二手 ICOS CI 8250 #9161520 待售

ICOS CI 8250是一种综合性的掩模和晶片检测设备，可以快速准确地识别掩模和晶片中的缺陷。该系统是为满足最苛刻的半导体应用的需求而设计的，因为它能够精确地查明非常小的缺陷。它提供了改进的图像质量、广泛的特征测量以及改进的图像分析功能,同时保持了较高的生产吞吐量。CI 8250单元包括多种工具,可帮助检查口罩和晶片。它包括一个用于跟踪检查信息的综合图像存储机器，以及一些用于缺陷分析的先进系统。该工具还能够自动聚焦，为检查员提供详细的图像，使他们能够准确识别缺陷。ICOS CI 8250资产也为冗余和验证提供了广泛的支持。它具有高级计划模型等功能,可帮助从头到尾简化检查过程,并允许快速做出决策。还有一个曝光控制设备，它使用多个传感器，以确保在检查过程中曝光的一致性和准确性。CI 8250系统还使用先进的3D处理算法来准确识别平面和复杂表面掩码中的缺陷。这样可以让单位检测到微误、翘曲、针孔、裂纹等表面问题等缺陷。它还可以检测电弧故障和介电故障等结构缺陷。最后，ICOS CI 8250机具有图像处理工具，可以检测复杂形状的尺寸缺陷。此功能允许在缺陷检查中具有很高的准确性。CI 8250资产是一种全面、高效的口罩和晶片检测解决方桉。它的特点和各种各样的工具使它能够识别非常小的缺陷,提供改进的图像分析功能,并以较高的图像质量和精度提高吞吐量。这些特点，加上它对冗余和验证的详细支持，使得这种模型成为高质量和精确度的掩模和晶片检验的理想选择。