二手 IMS LVIS-III #9159231 待售

IMS LVIS-III是一种先进的掩模和晶片检验设备，设计用于对晶片和掩模在制造、研发和其他应用中的快速准确分析。该仪器利用最新的数字成像和传感器技术，创建晶圆或掩模表面的高分辨率图像。该系统提供了广泛的特性和功能，使用户能够有效和方便地检查晶片或掩模是否有缺陷。该单元具有集成的紫外线（UV）和近红外（NIR）光源，可调以允许显微镜分析晶圆或掩模上的不同层材料。显微镜还包括一个自动偏振滤波器，可以调整以优化晶圆或掩模图像的对比度。一个集成的质询箱允许用户对被检查的材料进行现场测量，从而实现准确和一致的可重复性。该机还包括一个高性能的电动XY级与车载数字步进电机。这允许用户在X和Y方向上快速准确地移动样本，以检查整个视场。显微镜还配备了多种检查程序，使用户能够准确检测最常见的缺陷，如皱纹、变色、颠簸等。除显微镜外，该工具还包括一台高分辨率数码相机，能够精确分析晶圆或掩模表面。它还包括用于数据捕获、分析和报告的软件。该软件允许用户调整图像参数，以优化图像的对比度和亮度。然后,所有映像都可以作为JPG或BMP文件导出到计算机硬盘驱动器,以进行进一步分析。总体而言,LVIS-III是一种功能强大且先进的掩码和晶圆检查资产,提供易于使用的界面和最新的成像技术,可获得准确可靠的结果。该仪器非常适合研究和制造应用,使研究人员和制造商能够快速准确地分析晶片或掩模的任何缺陷。