二手 INTEK PLUS IPIS-HST #9241158 待售

INTEK PLUS IPIS-HST是半导体工业中使用的掩模和晶圆检验设备。它旨在以高分辨率和准确度检测晶片和掩模上的缺陷。该系统以卓越的3D测量技术为基础,具有深度学习和高级自动化功能,使其能够从多个角度检测和识别模式。它采用高分辨率光学显微镜拍摄50X、100X和200X的掩模和晶片图像，以及高速、明场和暗场光学器件，以清晰、准确和对比度捕捉图像。该设备配备了一个高速视觉处理器，其功能足以快速高效地分析多个掩码和晶片。该装置的视觉检测机还提供了改进的测量精度和深度学习算法，用于检测掩模和晶圆裂纹等细微缺陷。IPIS-HST工具还附带内置缺陷审查工具,允许用户查看、修改或接受模式缺陷。它配备了自动缺陷比较以及自动突出显示资产,可以检测晶圆上的不规则或极端模式变化。此外，该设备还可以生成报告，帮助用户提高检查过程的有效性。该设备强大的软件直观且用户友好。此外,它还提供了多种用户工具,如自动模式对齐、单点检查功能和用户定义的工具,使模型适合具有不同检查级别的用户。它还具有增强的数据分析工具,如直方图、模式漂移检测和其他功能,可随时间跟踪过程性能。INTEK PLUS IPIS-HST有一个大型液晶显示屏,用户可以在实时视图中监视检查过程。该装置还配备了耐用、IP65额定的防尘外壳，以保护其免受灰尘、水分和其他外部元素的侵害。此外,它还提供内置以太网和USB端口,用于将数据和图像传输到PC,以及可选的远程查看器软件和SDK,用于开发自定义应用程序。总体而言，IPIS-HST设备是一个功能强大的掩模和晶圆检测系统，提供高精度和可靠性。它使用户能够进行精确的测量，检测微妙的掩码和晶圆缺陷，并提高工艺性能。该器件非常适合半导体工业使用。