二手 INTEK PLUS IPIS-LWI1600L #9396010 待售

INTEK PLUS IPIS-LWI1600L是一种面罩和晶圆检查设备,旨在为用户提供高分辨率和高灵敏度的光学检查。该系统适用于范围广泛的晶圆尺寸，可以用自动采样级装置进行检查。本机利用专利双飞对焦（DFF）激光照明工具和先进的激光光源实现高分辨率检测能力。此外，该资产还具有激光驱动的光学传感器，可确保对晶圆表面进行精确和详细的检查。DFF激光照明模型使用受控激光束传递精确的照明焦点。用户能够控制和调整焦点，以确保整个晶片表面的照明尽可能均匀。此外，通过使用两个激光束的组合，该设备能够对高反射率和低反射率区域进行精确的检查，并保证高分辨率图像。IPIS-LWI1600L系统还具有先进的激光光源（ALLS）。此功能通过提供结构化照明环境帮助提高吞吐量。先进的算法使算法能够保持光线处于最佳状态，而不管晶圆大小和形状如何。ALLS功能还允许用户控制曝光时间和激光功率，确保检查过程中的最大效率。该单元旨在提供高对比度、高分辨率的图像。所有图像均从相机中提取,并以数字格式保存以进行存档。然后将单独捕获的组件组合在一起,生成具有真实颜色映射的图像。此功能允许用户准确识别任何缺陷。INTEK PLUS IPIS-LWI1600L机适用于工业和研究应用。最后,该工具设计的稳定性和可靠性.嵌入式资产控制器可确保始终校准模型并以最佳性能运行。为了进一步提高设备性能，检查过程涉及视觉算法和软件算法，使用户能够更好地识别任何晶圆缺陷。此外，软件还包括一系列检查，如表面地形、粘合垫、芯片参数和光学平面测量。这样可以确保IPIS-LWI1600L为用户提供准确可靠的检查解决方桉。