二手 IRVINE OPTICAL Ultraspec III #39811 待售

IRVINE OPTICAL Ultraspec III
ID: 39811
Wafer inspection station NIKON Optiphot DIC Optics Isolation table.
IRVINE OPTICAL Ultraspec III是一种面罩和晶圆检验设备,设计用于生产和研发实验室。利用先进的光学和三维成像技术,提供高效、高质量的检测结果。该系统非常适合测试各种晶圆基板,包括光掩码、显示器、CMOS设备和其他集成电路。Ultraspec III利用少数组件最大限度地提高效率和性能。它的自动晶片处理程序使用电动平台旋转和定位基板,以便进行最佳检查。高分辨率透镜捕获底物的图像,提供详细和揭示的图像。IRVINE OPTICAL Ultraspec III还配备了先进的图像分析软件。它能够捕获静态图像和动态图像,允许用户快速分析样本。它有一个内置算法,可以自动识别缺陷并在图像上进行标记。软件还包括全面的数据管理功能,允许用户存储图像、分析信息和其他数据。此外,Ultraspec III还提供了一个集成的单元级测试端口。此端口用于将计算机扩展到其他测试环境,例如prober。此端口还允许用户轻松地将额外的检查任务集成到整个工具操作中。IRVINE OPTICAL Ultraspec III提供了一个用户友好的界面来控制资产。它易于使用的菜单驱动菜单模型使它成为访问所有设备功能的微风。此外,所有调整和参数都存储在非易失性内存中,因此用户可以快速启动和运行系统。Ultraspec III是各种掩模和晶圆生产应用的理想选择。它的先进光学和成像技术为间隙、迭加和临界尺寸检查等应用提供了可靠和准确的检查过程。此外,其集成的单元级测试端口和用户友好的界面使其成为新晶片和基板快速成型和测试的绝佳选择。
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