二手 K-MAC SpectraThick #9151983 待售

製造商
K-MAC
模型
SpectraThick
ID: 9151983
晶圆大小: 4"
Thickness measurement system, 4" Currently de-installed.
K-MAC SpectraThick是为半导体和太阳能工业等制造和制造工艺而设计的先进的掩模和晶圆检测设备。该系统结合扫描电子显微镜(SEM)和自动光学检查(AOI)技术,提供卓越的测量精度和微观结构的详细分析。SpectraThick允许在掩模和晶片上容易检测到高分辨率微米级别的缺陷。检测单元采用了最先进的1-D(深度)感测像素体系结构,用于精确的模模缺陷检测。它采用主动聚焦和高速率扫描成像来测量亚微米缺陷的大小和形状。这大大提高了整体缺陷检测精度。该机集成了几个精密的模块化子组件,如自动光学检查工具、缺陷成像资产、扫描电子显微镜和控制模型。所有子系统都是电连接的,并与一台大型计算机设备集成在一起,使它们能够相互通信。控制系统负责管理各种摄像头功能,如识别和分类不同类型的缺陷。K-MAC SpectraThick也能够进行参数和屈服分析。它具有全面的计量功能,允许用户对零件进行精确测量。它利用先进的算法来快速准确地识别多个数据集之间的模式。该装置还设计用于提前减少排便。它配备了强大的缺陷分析和预后软件,使用户能够获得对其流程的宝贵见解。利用这些数据,用户可以采取纠正措施来提高产量。SpectraThick还提供最高级别的安全性和数据保护。它采用了一套复杂的安全措施,例如加密和安全验证协议。这些措施旨在保护机器的敏感数据和知识产权。总而言之,K-MAC SpectraThick是一款先进且极其可靠的掩模和晶圆检测工具。它的一整套功能帮助用户确保其产品达到最高质量标准,同时还提供对流程的详细分析。
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