二手 K-MAC ST 8000 #9195381 待售

K-MAC ST 8000是一种先进的掩模和晶圆检测设备，结合光学显微镜和数字成像，用于对先进半导体制造工艺中的缺陷进行精确和高速检测。该系统能够检测到广泛的特征，包括纹理、晶圆结构、孤立的缺陷、多余的材料、异物、划痕和结构缺陷。ST 8000的主要部件包括X-Y级、照明源、高分辨率数码相机、图像分析仪、具有原位功能的区域扫描滤波器以及广泛的自动化测试和测量工具。该舞台能够以高达16毫米/秒的速度高速行驶，而数码相机则能够以530万像素的最大分辨率拍摄图像。该图像分析仪能够识别不同类型的缺陷并进行亚微米精度的测量。此外,自动测试和测量工具根据收集到的缺陷提供各种报告。K-MAC ST 8000还可以对晶片表面进行原位分析，让单元更准确地识别出存在的缺陷类型。本机的原位能力结合了基于小波的异常检测和纹理分割两种分析技术。这种分析是实时进行的，允许立即反馈和更彻底的检查和分析过程。ST 8000旨在提高半导体制造过程的效率，提供更快、更准确的缺陷检测。此外,该工具对用户友好,可以定制以满足特定的生产要求。这一资产是晶圆和芯片制造商的理想选择，他们努力争取最高的质量控制标准，并希望从他们的投资中获得最大的回报。