二手 K-MAC Ster #293650375 待售

K-MAC Ster是一种自动化的掩模和晶圆检验设备，旨在提高吞吐量，降低半导体制造工艺的检验成本。该系统使用先进的摄像机、算法和模式识别技术对晶圆和掩码进行全面扫描，以发现任何异常和缺陷。坚固轻巧的Ster单元结合了高分辨率晶圆和掩模检测摄像头、可靠的大功率照明器和图像处理单元，提供可靠准确的检测结果。该机器能够同时检查单个或多个掩码,并且可以检测全局和局部缺陷。此外,该工具设计为高度可定制,允许用户在几分钟内设置自定义扫描。K-MAC Ster提供多种分析模式，范围从粗糙缺陷检测到子像素分析。利用模式识别算法和检测参数，可以快速准确地定位和识别缺陷。此外,该模型还配备了各种缺陷定义参数,允许用户自定义扫描条件以符合其特定要求。Ster改善的影像品质也大大减少了误报。错误警报是由于设备设置不正确或错误解释缺陷而产生的声音触发器。这会导致成本高昂且大量的返工操作。但是,复杂的图像增强功能（如图像锐化、去噪和边缘增强演算法）可减少错误警报并显着提高准确性。为了进一步提高系统的可靠性，K-MAC Ster还对缺陷大小和位置进行快速准确的测量，可用于跟踪多个掩模和晶圆周期上的缺陷。此外,集成缺陷管理单元允许用户查看、修改和存储无限数量的检查,并比较多次扫描的结果。除了提供快速准确的缺陷检测外,Ster还旨在简化工作流程并提高操作员的工作效率,使用户能够获得更高的产量、更低的成本和更好的性能。因此,K-MAC Ster是寻找能够以经济高效的方式提供高质量结果的自动掩模和晶圆检验机的半导体制造实验室的理想选择。