二手 KLA / ICOS CI 8250 #293591794 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款高效、功能强大的掩模和晶圆检测设备，经过设计，满足了半导体生产线的要求。该系统的主要目标是在微电子生产缺陷检测和预防方面提供高性能和准确性。它甚至可以检测到掩模和晶片层中的微小缺陷，从而使它们能够迅速地从生产线中移除。KLA CI 8250单元配备了先进的硬件、软件和光学器件，可以准确检测晶圆和掩码级别的缺陷。其高性能光学器件甚至可以检测到最小的缺陷，提供卓越的检测和分析结果。此外，机器能够扫描高分辨率的蒙版和晶片层图像，深度的焦点可达16微米。这些清晰的图像有助于仔细分析图层中存在的缺陷，并使其能够快速检查。该工具还具有故障安全功能,可确保只能识别和纠正超出检测阈值的缺陷。这使得它成为确保离开生产线的微电子器件质量的重要工具。此外，资产还支持自动检查过程，进一步尽量减少遗漏缺陷的可能性，减少人为错误。ICOS CI-8250模型可以很容易地集成到现有的生产线中,并且需要最少的设置。它还具有很高的灵活性，可以根据生产线的确切要求和规格进行定制，从而在检测和纠正缺陷方面实现更高的效率和准确性。此外,该设备还配有用户友好界面,易于操作,能够在不同模式之间快速切换并检查不同的子系统。总体而言，KLA/ICOS CI-8250是一个高效而强大的掩模和晶圆检测系统，旨在满足半导体行业的严格需求。该设备先进的硬件、软件和光学设备能够准确、快速地检测和清除最小的缺陷,从而确保只有优质的产品才能投入生产。