二手 KLA / ICOS CI 8250 #293655196 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款市场领先的面罩和晶圆检测设备,设计具有快速集成、通用配置以及用于非接触式3 D检测应用。该系统包括先进的成像技术、图像处理算法以及能够正确处理具有挑战性、复杂和微小的零件和缺陷的出色单元能力。它非常适合检查因失真、焦点变化或表面、反射效果和光散射而被遮蔽的图像。KLA CI 8250通常使用静态、非倾斜的成像路径和快速、高频的扫描机,以确保高精度和不断更新的3D图像。该工具包括两个或四个相机和三个不同镜头的选择,可以检查各种元件尺寸、高度、形状和复杂性。此外，该资产还提供了偏转校正技术，以便在工作范围广泛的不规则环境条件下进行准确的测量。该模型的核心是ALDS-8050先进的光探测器设备（ALD-S），该设备采用先进的降噪和文本技术设计，用于可靠的图像捕获。它为晶片、掩模和其他任何尺寸的基板提供均匀的照明,并且能够在单次和多次通道中以高度清晰和保真度捕获缺陷图像。ALD-S还具有集成的自动校准系统,可消除手动校准步骤。与ICOS CI-8250捆绑在一起的软件侧重于提供一个全面、方便用户的检查单位。它包括3 D视觉、非接触式3 D几何测量、扫描系统、强大的图像处理算法、缺陷分类和分析工具以及自动缺陷审查和过程控制（APC）。该机器方便用户，易于编程，能够快速定制检查检查，以适应特定的晶圆、掩模和组件类型。该工具提供详细的作业报告和过程控制图,以确保能够维护准确的过程统计信息和数据。总体而言,KLA CI-8250是一种功能强大、高效且精确的掩模和晶圆检测资产,旨在满足当今制造环境的需求。KLA/ICOS CI-8250部署迅速,用户友好,能够容纳各种组件大小,并提供可靠、详细的缺陷检测和几何测量。是口罩和晶圆检测操作的理想选择。